Mikroskopické metody
Mikroskop atomových sil
Mikroskopie atomových sil (anglicky Atomic force microscopy- AFM) je určena ke zjišťování topografie vzorku s rozlišení desetin nanometru ve vertikální ose a až jednotek nanometru v laterální rovině.
Na naší katedře jsou k dispozici dva mikroskopy AFM: Quesant Q-Scope 350 a NTegra Prima (NTMDT). NTegra umožňuje kromě základních módů (kontaktní a semikontaktní) měřit i v dalších režimech zahrnujících mimo jiné skenovací tunelovací mikroskopii (STM) využívající tunelového proudu mezi vzorkem a hrotem, akustickou mikroskopii (AFAM) umožňující lokálně měřit tvrdost, resp. Youngův modul, Kelvinovou mikroskopii a měření elektrického odporu pro mapování rozdělení povrchového potenciálu a lokálních proudů, a další. Mimoto AFM mikroskop NTegra Prima může být kombinován s nanoindentorem Triboscope 75 (Hysitron) s modulem nano-DMAIII. Toto zařízení překonavá hranici současného nanomechanického testování. Systém umožňuje dynamickou mechanickou analýzu s konstantní a variabilní oscilační silou superponovanou na přesně definovanou konstantní sílu, s variabilní frekvencí při konstantní oscilační síle a s konstantním poměrem mezi konstantní a variabilní složkou síly v průběhu nárůstu konstantní síly. Aplikace nízké oscilační síly umožňuje měření i velmi tenkých vrstev, jak měkkých a viskoelastických (polymery) tak tvrdých (kovy, oxidy kovů).
Skenovací elektronový mikroskop
Pro studium morfologie nanomateriálů máme k dispozici skenovací elektronový mikroskop JSM-7900F (JEOL), který umožňuje zobrazovat povrch vzorků s rozlišením až 1 nm i analýzu vzorků za tlaků až 400 Pa. Elektronový mikroskop je vybaven širokou škálou detektorů jak sekundárních, tak i zpětně odražených elektronů, což umožňuje komplexní charakterizaci celé řady mikro a nanonomateriálů včetně biologických vzorků se zvětšením od 10x do 1 000 000x při energiích elektronového svazku v rozmezí 0,01 – 30 kV a proudu svazku od několika pA do 500 nA.
